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相变存储器

发布时间:2025-11-28 12:30:44 人气:14

相变存储器

专利类型:

发明授权

申请(专利)号:

CN202210592715.5

申请日:

2022-05-27

授权公告号:

CN115411180B

授权公告日:

2025-11-28

申请人:

意法半导体(克洛尔2)公司

地址:

法国克洛尔

发明人:

P·古劳德; L·法韦内克

专辑:

工程科技Ⅱ辑

专题:

工业通用技术及设备

主分类号:

H10N70/00

分类号:

H10N70/00;H10B63/10

国省代码:

FR0ISCLL

页数:

13

代理机构:

北京市金杜律师事务所

代理人:

董莘

优先权:

2021-05-28 FR 2105618;2022-05-23 US 17/751,190

主权项:

1.一种用于制造存储器单元的方法,包括:(a)形成包括由相变材料制成的第一层和由导电材料制成的第二层的堆叠;(b)在所述堆叠上形成第一掩模,所述第一掩模仅覆盖所述存储器单元的位置;以及(c)蚀刻所述堆叠的、未被所述第一掩模覆盖的部分;其中步骤b)包括:在所述堆叠上沉积由与所述第一掩模相同的材料制成的第四层;形成第二掩模,所述第二掩模在第一方向上延伸,并且覆盖所述存储器单元的位置;蚀刻所述第四层的、未被所述第二掩模覆盖的部分;形成第三掩模,所述第三掩模在第二方向上延伸,并且覆盖所述存储器单元的位置;以及蚀刻所述第四层的、未被所述第三掩模覆盖的部分。

摘要:

本公开的实施例涉及相变存储器。存储器单元由以下制造:(a)形成包括由相变材料制成的第一层和由导电材料制成的第二层的堆叠;(b)在堆叠上形成仅覆盖存储器单元位置的掩模;以及(c)蚀刻堆叠的、未被第一掩模覆盖的部分。仅覆盖存储器单元位置的掩模的形成包括针对存储器单元位置的每排限定在排方向上延伸的第一掩模,并且接着针对存储器单元位置的每列在列方向上图案化第一掩模。

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