X射线检测器
发布时间：2025-03-06 12:44:20 人气：1
X射线检测器
专利类型：
发明授权
申请(专利)号：
CN202111373631.4
申请日：
2021-11-19
授权公告号：
CN114518588B
授权公告日：
2025-03-04
申请人：
意法半导体法国公司; 意法半导体(克洛尔2)公司
地址：
法国蒙鲁日
发明人：
专辑：
工程科技Ⅱ辑
专题：
核科学技术
主分类号：
G01T1/24
分类号：
G01T1/24
国省代码：
FR0HDMTG
页数：
12
代理机构：
北京市金杜律师事务所
代理人：
黄海鸣
优先权：
2020-11-20 FR 2011963;2021-11-18 US 17/529,543
主权项：
1.一种X射线检测器,包括：第一电路,包括第一NPN型双极晶体管；以及第二电路,被配置成将所述第一电路的电压与参考值进行比较,所述参考值基本等于当所述第一电路已经接收到阈值量的X射线时会出现的所述电压的值；其中,所述第一电路被配置成使得在所述检测器的操作期间,所述第一NPN型双极晶体管的基极电压处于值的范围内,对于所述值的范围,未接收到X射线的所述第一NPN型双极晶体管的增益是接收到所述阈值量的X射线的所述第一NPN型双极晶体管的增益的至少1.5倍大。
摘要：
本公开的各实施例涉及一种X射线检测器,包括具有NPN型双极晶体管的第一电路以及第二电路,第二电路被配置成将NPN型双极晶体管的端子处的电压与参考值进行比较,所述参考值基本等于当第一电路已经暴露于阈值量的X射线时会出现的端子电压的值。
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