集成电路和用于诊断集成电路的方法
发布时间：2024-07-19 08:40:53 人气：3
集成电路和用于诊断集成电路的方法
专利类型：
发明授权
申请(专利)号：
CN202110799778.3
申请日：
2021-07-15
授权公告号：
CN113945819B
授权公告日：
2024-07-19
申请人：
意法半导体(格勒诺布尔2)公司; 意法半导体(ALPS)有限公司
地址：
法国格勒诺布尔
发明人：
专辑：
工程科技Ⅱ辑
专题：
电力工业
主分类号：
G01R31/28
分类号：
G01R31/28
国省代码：
FR0ISGNB
页数：
11
代理机构：
北京市金杜律师事务所
代理人：
董莘
优先权：
2020-07-15 FR 2007423;2021-07-14 US 17/375,450
主权项：
1.一种集成电路,包括：电子模块,被配置为在输出处生成电压；以及电子控制电路,耦合到所述电子模块的输出,所述电子控制电路包括发射电子部件,所述电子控制电路被配置为使得所述发射电子部件根据所述电子模块的输出处的电压的值相对于所述电子模块的操作电压的值来发射光辐射,所述操作电压在所述电子模块的正常操作期间对于所述电子模块是特定的,其中由所述发射电子部件发射的所述光辐射被配置为扩散到所述集成电路的外表面。
摘要：
本公开的各实施例涉及集成电路和用于诊断集成电路的方法。根据一个方面,一种集成电路包括：电子模块,被配置为在输出处生成电压；以及电子控制电路,耦合到电子模块的输出,电子控制电路包括发射电子部件。电子控制电路被配置为使发射电子部件根据电子模块的输出处的电压值相对于电子模块的操作电压值来发射光辐射,并且操作电压在该电子模块的正常操作期间对于该电子模块是特定的。由发射电子部件发射的光辐射被配置为扩散到集成电路的外表面。
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